动态分层及其在CMOL电路缺陷容忍映射优化中的应用

发布时间：2024-03-15 19:25

　　由于CMOS/纳米混合电路(CMOL)中存在高缺陷率,缺陷容忍映射成为解决CMOL电路实用化的必需方法.针对传统的整体缺陷容忍方法中存在的耗时、难以求解大电路等问题,提出基于动态分层的缺陷容忍映射优化方法.首先对电路的缺陷进行了分类,然后以缺陷数递减的方式对CMOL电路进行动态分层,最后采用修改的禁忌算法在分层后的CMOL电路中验证所提出方法的性能.ISCAS测试电路的实验结果表明,与已有方法相比,文中方法在线长和映射速度方面有较明显优势.

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【部分图文】：

图1CMOL电路结构

1458计算机辅助设计与图形学学报第31卷因此CMOL技术被认为是最有可能替代传统CMOS技术的后CMOS技术之一.研究表明,纳米集成电路的缺陷率高达10%[2],远高于传统CMOS电路910~710的缺陷率[3].纳米电路中器件集成度可达1210个/cm2,如此超大规模的器件在....

图2逻辑电路到CMOL电路的映射结果示例

图3可用常开缺陷示例

1460计算机辅助设计与图形学学报第31卷在映射时缺陷单元仍可利用;若缺陷导致单元无法实现逻辑功能,在映射时缺陷单元则不可利用.为方便起见,引入如下定义.定义1.仅影响单元间连接的缺陷,称其为可用常开缺陷.定义2.影响单元逻辑功能的缺陷,称其为不可用常开缺陷.2.1.1可用常开缺....

图4s832电路缺陷容忍所需时间趋势由于现层缺陷单元的容忍是在完成前层缺陷

第8期查晓婧,等:动态分层及其在CMOL电路缺陷容忍映射优化中的应用1461开缺陷,或关联单元间距超过连通域半径,则这些缺陷均为有效缺陷.对CMOL电路缺陷容忍,首先要确定存在有效缺陷的被映射单元,然后对该单元进行重构.为了衡量缺陷单元重构的优先权,引入评估函数iiiivBua(....

本文编号：3928752