基于双目面结构光的高反光物体自适应条纹方法

发布时间：2022-12-04 14:26

　　在高反光物体的表面形貌视觉测量过程中,物体的镜面反射特性会导致获取的图像部分区域过曝而产生错误的计算结果。为解决这一问题,首先对自适应条纹算法进行改进优化,以减少使用面结构光测量过程中的投影次数,提高运算速度;然后对最大投影亮度进行调整,并在此基础之上实现了一种测量高反光物体形貌的双目面结构光算法。实验结果表明,该算法可以有效减轻所述对象表面的过曝程度,减少高反光物体表面测量的噪点和无效点,提高测量数据的质量。 

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【图文】：

表面反射模型示意图

改进的自适应条纹投影算法流程

第一轮投影相机饱和掩膜图像与


本文编号：3708431