粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中氧化钾、氧化钠和硫

发布时间：2022-01-03 15:51

　　快速、准确分析铁矿石中氧化钾、氧化钠、硫含量,对炼铁高炉稳定运行具有重要意义。采用粉末压片的制样方式,应用X射线荧光光谱法（XRF）对铁矿石中氧化钾、氧化钠、硫含量的测定进行了研究。讨论了压片机的压力、保压时间、样品粒度对测量结果的影响,获得最佳的制样条件。选用标准样品绘制校准曲线,并采用经验系数法校正,克服测定各组分时基体效应的影响。对铁矿石样品进行精密度实验,各组分11次平行测定的相对标准偏差在0.09%～1.00%;采用本方法对未参加校准的铁矿石标准样品进行准确度验证,验证结果与标准值相吻合。 

【文章来源】：山西化工. 2020,40(05)

【文章页数】：3 页

【文章目录】：
1 实验部分
    1.1 主要仪器和试剂
    1.2 实验方法
        1.2.1 样品制备
        1.2.2 分析条件
        1.2.3 校准曲线建立
2 结果及讨论
    2.1 压片机压力
    2.2 保压时间
    2.3 样品粒度的影响
    2.4 精密度实验
    2.5 准确度实验
3 结论


【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：3566546