可编程逻辑器件测试系统
发布时间：2021-06-15 21:25
随着可编程器件（PLD）的应用越来越广泛,可编程器件的测试技术也越来越受到重视,很多的单位和个人加入到芯片测试这一领域,有力地推动了芯片测试技术的发展。由于可编程器件的电路规模大、结构复杂,高覆盖率的自动化测试一直是可编程器件设计与生产上的难点,同时测试一种可编程器件结构需要大量的时间设计测试方案,测试成本较高。目前国内外针对不同场合的PLD测试系统的研究取得了很多成果,实现了大量可以实用的测试系统,这些测试系统大致可以分为两大类：首先是基于自主研制的测试系统,一般由上位机软件、通信电缆、控制电路以及待测PLD组成；其次是基于自动化测试设备（Automatic Test Equipment, ATE）的测试系统,使用ATE平台研发的测试系统则由ATE来完成自主研制测试系统中上位机软件和控制电路的功能,只需ATE和待测PLD即可完成测试。ATE可以一次完成待测PLD的多次配置与测试,从而减少了人工操作,提高了PLD的测试效率,便于实现PLD的制造测试。基于ATE的测试平台,效率高,功能强大,但是ATE高昂的价格不是一般单位和个人所能承受的,因此本文所研究的是一款属于自主研制的测试系统。本...
【文章来源】：长江大学湖北省
【文章页数】：73 页
【学位级别】：硕士
【文章目录】：
摘要
Abstract
第1章 绪论
1.1 课题背景及意义
1.2 国内外研究动态
1.3 主要工作及内容安排
第2章 测试系统总体方案设计
2.1 测试系统的总体结构概述
2.2 测试的基本原理
2.3 通信接口及上位机软件选择
2.4 本章小结
第3章 系统硬件设计
3.1 IspLsi1032测试板主控部分设计
3.2 IspLsi1032测试板被测部分设计
3.3 本章小结
第4章 系统软件设计
4.1 可编程逻辑器件设计语言
4.2 可编程逻辑器件逻辑功能设计
4.3 上位机软件设计
4.4 本章小结
第5章 IspLsi1032E测试系统的实现
5.1 复杂的可编程逻辑器件CPLD
5.2 CPLD器件IspLsi1032E
5.3 测试内容及基本流程
5.4 测试步骤及算法分析
5.5 本章小结
第6章 结论与展望
6.1 工作结论
6.2 工作展望
致谢
参考文献
个人简介
附录
附录1 IspLsi1032E测试板部分原理图
附录2 IspLsi1032E测试板
【参考文献】：
期刊论文
[1]FPGA端口资源的测试[J]. 朱秋英. 科技信息. 2012(12)
[2]Graph theory for FPGA minimum configurations[J]. 阮爱武,李文昌,项传银,宋江民,康实,廖永波. 半导体学报. 2011(11)
[3]基于SRAM型FPGA测试技术的研究[J]. 孙立波,雷加. 国外电子测量技术. 2011(05)
[4]Xilinx XC4000系列FPGA自动测试平台搭建[J]. 刘肄倬,杨志家,王宏. 微计算机信息. 2010(11)
[5]CPLD测试方法研究[J]. 于明. 电子测试. 2010(01)
[6]Design for an IO block array in a tile-based FPGA[J]. 丁光新,陈陵都,刘忠立. 半导体学报. 2009(08)
[7]基于ATE的FPGA测试方法[J]. 吉国凡,赵智昊,杨嵩. 电子测试. 2007(12)
[8]基于SRAM配置技术的FPGA测试方法研究[J]. 赵娟,王月玲,刘明峰,于宗光,王成. 半导体技术. 2007(09)
[9]可编程逻辑器件逻辑功能的测试新方法[J]. 张晨燕,康霞,马建涛. 微计算机信息. 2007(08)
[10]In-system可编程器件的应用[J]. 王秀珍,薛萍. 宁波工程学院学报. 2006(04)
硕士论文
[1]FPGA测试系统的研究与设计[D]. 王群泽.西安电子科技大学 2011
[2]FPGA芯片测试方法研究[D]. 代莉.复旦大学 2009
[3]FPGA的测试[D]. 陈庆孔.南京理工大学 2009
[4]FPGA时延故障测试技术研究[D]. 杜社会.湖南大学 2008
[5]基于FPGA的可测性设计方法研究[D]. 吴继娟.哈尔滨工程大学 2006
[6]SRAM型FPGA的测试技术研究[D]. 周涛.电子科技大学 2006
[7]基于与或阵列结构的可编程逻辑器件的可测性设计研究[D]. 刘杰.合肥工业大学 2004
[8]FPGA的边界扫描测试方法研究[D]. 孙媛媛.哈尔滨工程大学 2004
[9]FPGA联线资源测试方法的研究[D]. 王海龙.哈尔滨工程大学 2003
本文编号：3231793
【文章来源】：长江大学湖北省
【文章页数】：73 页
【学位级别】：硕士
【文章目录】：
摘要
Abstract
第1章 绪论
1.1 课题背景及意义
1.2 国内外研究动态
1.3 主要工作及内容安排
第2章 测试系统总体方案设计
2.1 测试系统的总体结构概述
2.2 测试的基本原理
2.3 通信接口及上位机软件选择
2.4 本章小结
第3章 系统硬件设计
3.1 IspLsi1032测试板主控部分设计
3.2 IspLsi1032测试板被测部分设计
3.3 本章小结
第4章 系统软件设计
4.1 可编程逻辑器件设计语言
4.2 可编程逻辑器件逻辑功能设计
4.3 上位机软件设计
4.4 本章小结
第5章 IspLsi1032E测试系统的实现
5.1 复杂的可编程逻辑器件CPLD
5.2 CPLD器件IspLsi1032E
5.3 测试内容及基本流程
5.4 测试步骤及算法分析
5.5 本章小结
第6章 结论与展望
6.1 工作结论
6.2 工作展望
致谢
参考文献
个人简介
附录
附录1 IspLsi1032E测试板部分原理图
附录2 IspLsi1032E测试板
【参考文献】：
期刊论文
[1]FPGA端口资源的测试[J]. 朱秋英. 科技信息. 2012(12)
[2]Graph theory for FPGA minimum configurations[J]. 阮爱武,李文昌,项传银,宋江民,康实,廖永波. 半导体学报. 2011(11)
[3]基于SRAM型FPGA测试技术的研究[J]. 孙立波,雷加. 国外电子测量技术. 2011(05)
[4]Xilinx XC4000系列FPGA自动测试平台搭建[J]. 刘肄倬,杨志家,王宏. 微计算机信息. 2010(11)
[5]CPLD测试方法研究[J]. 于明. 电子测试. 2010(01)
[6]Design for an IO block array in a tile-based FPGA[J]. 丁光新,陈陵都,刘忠立. 半导体学报. 2009(08)
[7]基于ATE的FPGA测试方法[J]. 吉国凡,赵智昊,杨嵩. 电子测试. 2007(12)
[8]基于SRAM配置技术的FPGA测试方法研究[J]. 赵娟,王月玲,刘明峰,于宗光,王成. 半导体技术. 2007(09)
[9]可编程逻辑器件逻辑功能的测试新方法[J]. 张晨燕,康霞,马建涛. 微计算机信息. 2007(08)
[10]In-system可编程器件的应用[J]. 王秀珍,薛萍. 宁波工程学院学报. 2006(04)
硕士论文
[1]FPGA测试系统的研究与设计[D]. 王群泽.西安电子科技大学 2011
[2]FPGA芯片测试方法研究[D]. 代莉.复旦大学 2009
[3]FPGA的测试[D]. 陈庆孔.南京理工大学 2009
[4]FPGA时延故障测试技术研究[D]. 杜社会.湖南大学 2008
[5]基于FPGA的可测性设计方法研究[D]. 吴继娟.哈尔滨工程大学 2006
[6]SRAM型FPGA的测试技术研究[D]. 周涛.电子科技大学 2006
[7]基于与或阵列结构的可编程逻辑器件的可测性设计研究[D]. 刘杰.合肥工业大学 2004
[8]FPGA的边界扫描测试方法研究[D]. 孙媛媛.哈尔滨工程大学 2004
[9]FPGA联线资源测试方法的研究[D]. 王海龙.哈尔滨工程大学 2003
本文编号：3231793
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