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高g值冲击下灌封电路系统的动态响应及失效分析

发布时间:2022-01-27 05:43
  在弹体侵彻目标防护工程的过程中,电路系统将承受高g值加速度冲击,需要用环氧树脂进行灌封防护。为进一步提高灌封防护技术,本文研究了高g值冲击下灌封电路系统的动态响应和失效机理。通过对比不同封装及灌封模式下的动态响应,验证了灌封层对应力波幅值的隔离与衰减效果,同时分析了不同情况下电路系统抗冲击性能上的差异。此外,环氧树脂作为粘弹性材料,具有消波减振能力。以灌封材料的高频松弛时间,和冲击脉宽为变量,参考正交实验设计,通过模拟计算了其对结构响应频率,耗散能,耗散速度等的影响,验证了关于粘弹性材料在交变应力下耗散能力的理论分析。最后,以引脚与芯片和PCB板两侧连接面的位移差作为“桥梁”,模拟计算了不同情况下引脚焊接的可靠性。结果表明:(1)灌封结构对应力波幅值有明显的削弱效果,但电路板元器件结构导致的应力集中,使得QFP封装中芯片与引脚连接部位容易发生破坏;BGA封装中焊接面容易断开失效;横向布置的BGA封装电路板抗冲击性能相对较好。(2)灌封材料的高频响应时间越短,灌封体对内部机械能的耗散速度越快,消波减振效果越好;载荷脉宽越大,系统的响应振动周期越长,灌封体总的耗散能越小,但耗散时间差异不大... 

【文章来源】:中北大学山西省

【文章页数】:69 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

高g值冲击下灌封电路系统的动态响应及失效分析


实验中失效的灌封电路系统

加速度曲线,空气炮


室在MEMS非易失存储器防护的研究中,选用环氧树脂对电路模块进行灌封防空气炮加载实验进行验证,结果表明在该结构的保护下,存储器可以经受峰值 5.5ms 的冲击波加载过程。瑞士武器系统与弹药实验中心[20]设计了高 g 值弹道记录器 FDR,并在实验过程中成功测得幅值 90000g,脉宽 200us 的冲击曲线些研究者[21-22]采用了冲击塞或磁流变冲击隔离技术,通过吸收冲击能量,对冲离。在国内,中北大学徐鹏等[23]用泡沫铝金属壳结构对电路系统受到的冲击进行空气炮加载实验(图 1.2)进行了验证。张文栋等[24-25]将传感器安装在弹体后上(图 1.3),在侵彻单层钢靶实验中获得了峰值超过 18 万 g 的冲击加速度曲忠等[26]尝试在系统外部增加缓冲弹簧结构,并对该结构进行了优化设计。在这护下,陈小伟、高进忠等人[27]在钻地弹以 1200m/s 的初速度侵彻多级高强度混实验中,获得了高达 15 万 g 峰值的弹体侵彻加速度曲线。

加速度曲线,防护结构,侵彻


室在MEMS非易失存储器防护的研究中,选用环氧树脂对电路模块进行灌封防空气炮加载实验进行验证,结果表明在该结构的保护下,存储器可以经受峰值 5.5ms 的冲击波加载过程。瑞士武器系统与弹药实验中心[20]设计了高 g 值弹道记录器 FDR,并在实验过程中成功测得幅值 90000g,脉宽 200us 的冲击曲线些研究者[21-22]采用了冲击塞或磁流变冲击隔离技术,通过吸收冲击能量,对冲离。在国内,中北大学徐鹏等[23]用泡沫铝金属壳结构对电路系统受到的冲击进行空气炮加载实验(图 1.2)进行了验证。张文栋等[24-25]将传感器安装在弹体后上(图 1.3),在侵彻单层钢靶实验中获得了峰值超过 18 万 g 的冲击加速度曲忠等[26]尝试在系统外部增加缓冲弹簧结构,并对该结构进行了优化设计。在这护下,陈小伟、高进忠等人[27]在钻地弹以 1200m/s 的初速度侵彻多级高强度混实验中,获得了高达 15 万 g 峰值的弹体侵彻加速度曲线。

【参考文献】:
期刊论文
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[3]基于纳米压痕法的无铅BGA焊点力学性能及其尺寸效应研究[D]. 王凤江.哈尔滨工业大学 2006

硕士论文
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[2]高冲击环境下弹载引信灌封层对系统的防护分析和仿真研究[D]. 焦敏.中国工程物理研究院 2014
[3]BGA焊点在不同加载方式下的纳米力学行为研究[D]. 刘阁旭.哈尔滨理工大学 2014
[4]硬目标侵彻测试系统防护设计与仿真分析[D]. 姬永强.西南交通大学 2013
[5]微电子封装结构冲击失效的数值研究[D]. 金超超.浙江工业大学 2012
[6]军用电子模块无铅焊点可靠性的研究[D]. 贾小平.清华大学 2011
[7]侵彻测试系统可靠性研究[D]. 李峥辉.中北大学 2010
[8]无铅焊料对电子封装芯片动态可靠性影响的研究[D]. 袁国政.太原理工大学 2007



本文编号:3611879

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