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星载多型号光电探测器热真空环境试验研究

发布时间:2024-04-15 02:27
  为将低等级探测器应用于宇航等高可靠性应用环境,对探测器进行可靠性环境试验考核至关重要。本文提出了一种探测器的热真空实验方法,对多种型号星载探测器进行热真空环境考核试验,通过对比热真空环境试验前后探测器的相对光谱响应率、暗电流、制冷器驱动电流、探测器制冷特性等参数的变化,分析各型号探测器热真空环境的适应性,从而在早期暴露可能存在质量及其他缺陷的产品,筛选出性能最优产品用于宇航产品。试验结果表明,参试的探测器在热真空环境试验考核和筛选之后的各项性能指标满足设计要求,具有很好的可靠性,可以满足航天载荷应用需求。

【文章页数】:6 页

【部分图文】:

图5S13735试验前后光谱响应率相对变化率

图5S13735试验前后光谱响应率相对变化率

由于探测器在实际环境工作时不需要加偏压,所以在测量时给探测器加0mV偏压,同时加38mV偏压的目的是为了将背景辐射降到1%以下,减小温度对探测器测量的影响。通过公式(1)计算得到S13735、G12180和G121833种探测器的试验前后的光谱响应率的相对变化率如图5、图....


图6G12180和G12183试验前后光谱响应率相对变化率

图6G12180和G12183试验前后光谱响应率相对变化率

红外探测器制冷器制冷驱动电流在室温22℃条件下进行测试(注:编号1~5表示5只InGaAsG12180探测器,编号6~9表示4只InGaAsG12183探测器),测试结果及变化率如图10所示。图7S13735探测器试验前后暗电流值


图8G12180探测器试验前后暗电流值

图8G12180探测器试验前后暗电流值

图7S13735探测器试验前后暗电流值图9G12183探测器0mV和38mV偏压试验前后暗电流值


图1浴盆曲线

图1浴盆曲线

实践证明大多数设备的故障率是时间的函数,典型故障曲线称之为浴盆曲线(Bathtubcurve),如图1所示。浴盆曲线具有明显的阶段性,失效率随使用时间变化分为3个阶段:早期失效期(Ⅰ)、偶然失效期(Ⅱ)和耗损失效期(Ⅲ)[6,9]。在I以前是早期失效阶段,主要由制造、装配、质量....



本文编号:3955592

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