真空紫外辐照引起的聚合物材料质量损失模型及实验验证

发布时间：2017-08-08 08:22

  本文关键词：真空紫外辐照引起的聚合物材料质量损失模型及实验验证

  更多相关文章： 真空紫外辐照 聚合物材料 质量损失 扩散理论

【摘要】：基于扩散理论及辐射化学反应理论,建立真空紫外(VUV)辐照引起的聚合物材料质量损失数学模型。采用分离变量法与特征函数展开法,获得材料中挥发物质量随辐照剂量变化的函数关系式。通过实验得到聚酰亚胺(PI)薄膜和聚酯(PET)薄膜的质量损失数据,拟合求解模型中的参数,验证模型的适用性。实验结果表明,该质量损失模型适用于PI薄膜及PET薄膜,借助该模型可预估VUV辐照引起的材料的质量损失。
【作者单位】： 兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室;无锡泓瑞航天科技有限公司;
【关键词】： 真空紫外辐照 聚合物材料 质量损失 扩散理论
【基金】：真空低温技术与物理重点实验室基金(9140C550205140C55003)
【分类号】：V419
【正文快照】： 0引言聚合物材料在空间环境下因发生出气逸出行为可造成分子污染[1-2]。航天器敏感表面污染是一个复杂的物理与化学过程。它包括挥发物分子从材料体内逸出、空间传输和在敏感表面沉积三个基本过程。分子污染效应不仅取决于航天器所使用聚合物材料的种类和数量,而且与航天器的，

本文编号：639016